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                  GB/T 42975-2023 半導體集成電路 驅動器測試方法 正式版

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                  • 語言:中文版
                  • 格式: PDF文檔
                  • 類別:電子信息
                  • 更新日期:2023-12-15
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                  資源簡介
                  本文件規定了半導體集成電路驅動器(以下簡稱器件)的電特性測試方法的基本原理和測試程序。本文件適用于74/54系列驅動器、總線驅動器、PIN開關驅動器、達林頓驅動器、時鐘驅動器、LVDS驅動器、MOSFET驅動器和差分驅動器等各種半導體工藝制造的驅動器的電性能測試。其他類別驅動器的測試參考使用。

                  標準號:GB/T 42975-2023
                  標準名稱:半導體集成電路 驅動器測試方法
                  英文名稱:Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

                  發布日期:2023-09-07
                  實施日期:2024-01-01

                  引用標準:GB/T 9178-1988 GB/T 17574-1998

                  起草人:劉芳、周俊、楊曉強、縱雷、劉凡、霍玉柱、林瑜攀、陸堅、梁希、王會影
                  起草單位:中國電子技術標準化研究院、中國電子科技集團公司第二十四研究所、安徽大華半導體科技有限公司、中國電子科技集團公司第十三研究所、廣東省中紹宣標準化技術研究院有限公司、中國電子科技集團公司第五十八研究所、中國航天科技集團公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司
                  歸口單位:全國半導體器件標準化技術委員會(SAC/TC 78)
                  下載地址
                  GB/T 42975-2023 半導體集成電路 驅動器測試方法 正式版資源截圖
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