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                  GB/T 4937.26-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第26部分:靜電放電(ESD)敏感度測試 人體模型(HBM) 正式版

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                  • 語言:中文版
                  • 格式: PDF文檔
                  • 類別:電子信息
                  • 更新日期:2023-12-15
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                  關鍵詞:半導體器件
                  資源簡介
                  本文件依據元器件和微電路對規定的人體模型(HBM)靜電放電(ESD)所造成損傷或退化的敏感度,建立了元器件和微電路的ESD測試、評價和分級程序。本文件的目的是建立一種能夠復現HBM失效的測試方法,并為不同類型的元器件提供可靠、可重復的HBM ESD測試結果,且測試結果不因測試設備而改變。重復性數據可以保證HBM ESD敏感度等級的準確劃分及對比。半導體器件的ESD測試從本測試方法、機器模型(MM)測試方法(見IEC 6074927)或IEC 60749(所有部分)中的其他ESD測試方法中選擇。除另有規定外,本測試方法為所選方法。

                  標準號:GB/T 4937.26-2023
                  標準名稱:半導體器件 機械和氣候試驗方法 第26部分:靜電放電(ESD)敏感度測試 人體模型(HBM)
                  英文名稱:Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 26:Electrostatic discharge(ESD)sensitivity testing—Human body model(HBM)

                  發布日期:2023-09-07
                  實施日期:2024-04-01

                  采用標準:IEC 60749-26:2018《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第26部分:靜電放電(ESD)敏感度測試 人體模型(HBM)》 IDT 等同采用

                  起草人:高蕾、張魁、魯世斌、遲雷、翟玉穎、彭浩、高金環、張瑞霞、黃杰、趙鵬、徐昕、魏兵、黎重林、顏天寶、金哲
                  起草單位:中國電子科技集團公司第十三研究所、河北北芯半導體科技有限公司、安徽榮創芯科自動化設備制造有限公司、北京賽迪君信電子產品檢測實驗室有限公司、河北中電科航檢測技術服務有限公司、捷捷半導體有限公司、佛山市川東磁電股份有限公司
                  歸口單位:全國半導體器件標準化技術委員會(SAC/TC 78)
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                  GB/T 4937.26-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第26部分:靜電放電(ESD)敏感度測試 人體模型(HBM) 正式版資源截圖
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